中华人民共和国国家标准:表面化学分析 硅片工作标准样品表面元素的化学收集方法和全反射X射线荧光光谱法(TXRF)测定(GB/T 30701-2014/ISO 17331:2004
- 作者
- 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局
- 出版社
- 中国标准出版社 版次：第1版
- 语言
- 简体中文
- 页数
- 16页
- 装帧
- 平装
- ISBN
- 307012014
- 电子书格式
- epub,pdf,txt,azw3,mobi,fb2,djvu
- 下载次数
- 2848
- 更新日期
- 2023-08-29
《中华人民共和国国家标准:表面化学分析 硅片工作标准样品表面元素的化学收集方法和全反射X射线荧光光谱法(TXRF)测定(GB/T 30701-2014/ISO 17331:2004》由中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会于2014—06—09发布，并且于2014—12—01实施。《中华人民共和国国家标准:表面化学分析 硅片工作标准样品表面元素的化学收集方法和全反射X射线荧光光谱法(TXRF)测定(GB/T 30701-2014/ISO 17331:2004》中的标准按照GB／T 1.1—2009给出的规则起草。本标准使用翻译法等同采用ISO 17331：2004《表面化学分析硅片工作标准样品表面元素的化学收集方法和全反射X射线荧光光谱法（TXRF）测定》。本标准由全国微束分析标准化技术委员会（SAC／TC 38）提出并归口。
中华人民共和国国家标准:表面化学分析 硅片工作标准样品表面元素的化学收集方法和全反射X射线荧光光谱法(TXRF)测定(GB/T 30701-2014/ISO 17331:2004 EPUB, PDF, TXT, AZW3, MOBI, FB2, DjVu, Kindle电子书免费下载。