数字系统测试和可测试性设计
- 作者
- 塞纳拉伯丁•纳瓦比(Zainalabedin Navabi)
- 出版社
- 机械工业出版社 版次：第1版
- 出品方
- 机械工业出版社
- 语言
- 简体中文
- 页数
- 368页
- 装帧
- 平装
- ISBN
- 9787111501541
- 重量
- 662 g
- 尺寸
- 23.8 x 18.8 x 1.4 cm
- 电子书格式
- epub,pdf,txt,azw3,mobi,fb2,djvu
- 下载次数
- 4855
- 更新日期
- 2023-05-19
这本书论述了数字系统测试和可测性设计，它通过数字电路设计实例和方法阐明了测试和可测试性的概念。本书还采用Verilog模型和Verilog测试平台实现并解释故障仿真和测试生成算法。本书的最大特点是广泛地使用Verilog和VerilogPLI编写测试应用，这把本书与其他讨论测试和可测试性的书籍区分开来。
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