GB/T19403.1-2003半导体器件集成电路第11部分：第1篇：半导体集成电路内部目检（不包括混合电路）

作者

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会

出版社

中国标准出版社 版次：第1版

出品方

中国标准出版社

语言

简体中文

装帧

平装

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更新日期

2023-08-27