《硅晶片表面超薄氧化硅层厚度的测量 X射线光电子能谱法(GB/T 25188-2010)》由中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局,中国国家标准化管理委员会发布。《硅晶片表面超薄氧化硅层厚度的测量 X
《中华人民共和国有色金属行业标准:铝电解质分子比及主要成分的测定X射线荧光光谱法(YS/T 739-2010)》由全国有色金属标准化技术委员会(SAC/TC 243)归口,中国铝业股份有限公司贵州分公
《医用诊断X射线辐射防护器具(第1部分):材料衰减性能的测定(YY 0292.1-1997)》引用的标准,如有对应的国际标准,并已转化为我国标准的,则引用我国标准,并附国际标准编号或名称。对尚未转化为
《出口水产品中铯-137放射性活度检验方法 γ射线能谱法(SN 0662-1997)》测定低限是根据国际上对水产品中铯-137放射性活度的最高限量及仪器的探测效率而制定的。本标准的附录A是提示的附录。
《表面化学分析 X射线光电子能谱 荷电控制和荷电校正方法的报告(GB/T 25185-2010/ISO 19318:2004)》由全国微束分析标准化技术委员会提出并归口。本标准负责起草单位:北京师范大
《中华人民共和国石油化工行业标准:硅铝催化剂中γ-Al2O3含量测定法(X射线衍射法)(SH/T 0625-1995)》规定了用X射线衍射仪测定硅铝催化剂中Y—Al2O3及其他过渡态氧化铝相对含量的方
《镍铁 镍、硅、磷、锰、钴、铬和铜含量的测定 波长色散X-射线荧光光谱法(常规法)(GB/T 24198-2009)》由中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局中国国家标准化管理委员会发布,本标准的附录
GB/T 23909《无损检测 射线透视检测》分为三个部分:成像性能的定量测量;成像装置长期稳定性的校验;金属材料X和伽玛射线透视检测总则。《无损检测 射线透视检测(第2部分):成像装置长期稳定性的校
《无损检测 射线透视检测(第1部分):成像性能的定量测量(GB/T 23909.1-2009)》由中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局中国国家标准化管理委员会发布,本部分的附录A为资料性附录。本部分
《石油和石油产品硫含量的测定 能量色散X射线荧光光谱法(GB/T 17040-2008)》修改采用美国试验与材料协会标准ASTM D4294:2003《石油和石油产品硫含量的标准测定方法(能量色散X射
《射线图像分辨力测试计(GB/T 23903-2009)》的附录A为资料性附录。本标准由全国无损检测标准化技术委员会(SAC/TC 56)提出并归口。本标准起草单位:广东盈泉钢制品有限公司、南京宁达影
《黄金制品的扫描电镜X射线能谱分析方法(GB/T 17362-2008)》代替GB∕T 17362—1998《黄金饰品的扫描电镜X射线能谱分析方法》和GB∕T 17723—1999《黄金制品镀层成分的
《γ射线探伤机(GB/T 14058-2008)》代替GB/T 14058—1993《γ射线探伤机》。本标准的附录B和附录C为规范性附录,附录A为资料性附录。本标准由中国核工业集团公司提出。本标准由全
《无损检测 伽马射线全景曝光照相检测方法(GB/T 16544-2008)》代替GB/T 16544—1996《球形储罐7射线全景曝光照相方法》。本标准与GB/T 16544—1996相比主要变化如下
《锗γ射线探测器测试方法(GB/T 7167-2008)》对应于IEC 60973:1989《锗γ射线探测器测试方法》,与IEC 60973:1989 一致性程度为非等效。本标准代替GB/T 7167
《钢铁多元素含量的测定X-射线荧光光谱法(常规法)(GB/T 223.79-2007)》的附录A和附录B为规范性附录。本部分由中国钢铁工业协会提出。本部分由全国钢标准化技术委员会归口。本部分主要起草单
《无损检测、术语、射线照相检测(GB/T 12604.2-2005)(ISO 5576:1997)》与GB/T 12604.2—1990相比主要变化如下:修改了术语和定义(1990年版的第2、3、4章
《金属与非金属覆盖层 覆盖层厚度测量β射线背散射方法(GB/T 20018-2005)(ISO 3543:2000)》等同采用ISO 3543:2000(E)《金属与非金属覆盖层覆盖层厚度测量β射线背
《铁矿石钙、硅、镁、钛、磷、锰、铝和钡含量的测定、波长色散X射线荧光光谱法(GB/T 6730.62-2005)》由中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局中国国家标准化管理委员会发布,主要内容修改如下
《无损检测、射线照相像质计原则与标识(GB/T 19803-2005/ISO 1027:1983)》等同采用ISO 1027:1983《无损检测射线照相像质计 原则与标识》(英文版)。本标准等同翻译I
《中华人民共和国国家标准:无损检测、工业射线照相观片灯最低要求(GB/T 19802-2005)(ISO 5580:1985)》为方便使用,在原版的基础上做了一些调整:“本国际标准”一词改为“本标准”
《医用电气设备、第2-43部分:介入操作X射线设备安全专用要求(GB 9706.23-2005/IEC 60601-2-43:2000)》的附录AA、附录EE、附录FF为规范性附录。本标准的附录BB、
《中华人民共和国医药行业标准·医用电气设备 光电X射线影像增强器特性(第1部分):入射野尺寸的测定(YY/T 0457.1-2003)(IEC 61262-1:1994)》的附录A、附录B为资料性附录
《中华人民共和国国家标准:能量色散X射线荧光光谱仪主要性能测试方法(GB/T 31364-2015)》按照GB/T1.1—2009给出的规则起草。本标准由全国核仪器仪表标准化技术委员会(SAC/TC3
《中华人民共和国国家标准:表面化学分析·俄歇电子能谱和X射线光电子能谱·实验测定的相对灵敏度因子在均匀材料定量分析中的使用指南(GB/T 30702-2014)(ISO 18118:2004)》按照G
《中华人民共和国国家标准:便携式X射线安全检查设备通用规范(GB 12664-2003)》自实施之日起同时代替GB12664—1990。本标准的附录B是规范性附录,附录A、附录C和附录D是资料性附录。
《中华人民共和国国家标准·无损检测 工业射线照相胶片第1部分:工业射线照相胶片系统的分类(GB/T19348.1-2014代替GB/T19348.1-2003)》按照GB/T1.1—2009给出的规则
《中华人民共和国国家职业卫生标准:低能γ射线粒籽源植入治疗放射防护要求与质量控制检测规范(GBZ 178-2014)》增加了粒籽源使用要求;《中华人民共和国国家职业卫生标准:低能γ射线粒籽源植入治疗放
《中华人民共和国国家标准:阴极射线示波器通用规范(GB/T 6585-2013)》按照GB/T1.1—2009给出的规则起草。本标准由中华人民共和国工业和信息化部提出。本标准由全国电子测量仪器标准化技
《中华人民共和国国家标准:表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 测定峰强度的方法和报告结果所需的信息(GB/T 28893-2012)(ISO 20903:2006)》按照GB/T1.1—20