锗单晶位错腐蚀坑密度测量方法(GB/T 5252-2006)

锗单晶位错腐蚀坑密度测量方法(GB/T 5252-2006)

作者
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局
出版社
中国标准出版社 版次:第1版
出品方
北京劲松建达科技图书有限公司
语言
简体中文
页数
6页
装帧
平装
ISBN
155066128180
重量
18 g
尺寸
29.6 x 21 x 0.2 cm
电子书格式
epub,pdf,txt,azw3,mobi,fb2,djvu
下载次数
4223
更新日期
2023-08-07

《锗单晶位错腐蚀坑密度测量方法(GB/T 5252-2006)》自实施之日起代替GB/T 5252—1985。由中国有色金属工业协会提出。由全国有色金属标准化技术委员会归口。起草单位:北京有色金属研究总院。主要起草人:余怀之,刘建平。由全国有色金属标准化技术委员会负责解释。

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