硅及其他电子材料晶片参考面长度测量方法(GB/T 13387-2009)
- 作者
- 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局
- 出版社
- 中国标准出版社 版次：第1版
- 出品方
- 北京劲松建达科技图书有限公司
- 语言
- 简体中文
- 页数
- 5页
- 装帧
- 平装
- ISBN
- 155066139557
- 重量
- 32 g
- 尺寸
- 29.6 x 21 x 0.2 cm
- 电子书格式
- epub,pdf,txt,azw3,mobi,fb2,djvu
- 下载次数
- 2491
- 更新日期
- 2023-08-31
《硅及其他电子材料晶片参考面长度测量方法(GB/T 13387-2009)》代替GB／T 13387—1992，与其相比主要有如下变化：细化了测量范围的内容，如该方法中涉及的公英制单位等；增加了该方法的局限性内容；增加了部分术语，定义了测量中用到的偏移；增加了引用标准；将原标准中的试样改为抽样章节等。
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