GB5594.3-1985电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法平均线膨胀系数测试方法

GB5594.3-1985电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法平均线膨胀系数测试方法，中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局中国国家标准化管理委员会所著，中国标准出版社出版发行，图书装帧形式选用平装

本标准适用于测量室温至800℃各个阶段中电子器件结构陶瓷的平均线膨胀系数。

GB5594.3-1985电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法平均线膨胀系数测试方法 EPUB, PDF, TXT, AZW3, MOBI, FB2, DjVu, Kindle电子书免费下载。