非本征半导体中少数载流子扩散长度的稳态表面光电压测试方法(YS/T 679-2008)
- 作者
- 国家发展和改革委员会
- 出版社
- 中国标准出版社 版次：第1版
- 出品方
- 北京劲松建达科技图书有限公司
- 语言
- 简体中文
- 页数
- 10页
- 装帧
- 平装
- ISBN
- 155066218659
- 重量
- 18 g
- 尺寸
- 29.6 x 21 x 0.2 cm
- 电子书格式
- epub,pdf,txt,azw3,mobi,fb2,djvu
- 下载次数
- 4871
- 更新日期
- 2023-08-28
《非本征半导体中少数载流子扩散长度的稳态表面光电压测试方法(YS/T 679-2008)》由国家发展和改革委员会发布，修改采用SEMI MF 391—1106，与SEMI MF 391—1106相比主要有如下变化：标准格式按GB／T 1.1要求编排；将SEMI MF 391—1106中的部分注转换为正文；将SEMI MF 391—1106中部分内容进行了编排。
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