《电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 平均线膨胀系数测试方法(GB 5594.3-85)》由中华人民共和国电子工业部提出。本标准由电子工业部12研究所负责起草。本标准主要起草人李蓝瑞，本标准是中华人民共和国国家标准，本标准由国家标准局批准，本标准于1985—11—27发布，1986—12—01实施。
电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 平均线膨胀系数测试方法(GB 5594.3-85) EPUB, PDF, TXT, AZW3, MOBI, FB2, DjVu, Kindle电子书免费下载。
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