半导体集成电路采样•保持放大器测试方法的基本原理(GB/T 14115-1993)

半导体集成电路采样•保持放大器测试方法的基本原理(GB/T 14115-1993)

作者
国家技术监督局
出版社
中国标准出版社 版次:第1版
出品方
北京劲松建达科技图书有限公司
语言
简体中文
页数
12页
装帧
平装
ISBN
15506619971
重量
27 g
尺寸
29.6 x 21 x 0.4 cm
电子书格式
epub,pdf,txt,azw3,mobi,fb2,djvu
下载次数
833
更新日期
2023-08-29

《半导体集成电路采样•保持放大器测试方法的基本原理(GB/T 14115-1993)》主题内容与适用范围:本标准规定了半导体集成电路采样/保持放大器(以下简称器件)电参数测试方法的基本原理。本标准适用于半导体集成电路采样/保持放大器的电参数测试。《半导体集成电路采样•保持放大器测试方法的基本原理(GB/T 14115-1993)》由国家技术监督局1993年01月21日发布,1993年08月01日实施。

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