杨德仁
半导体材料测试与分析
《半导体材料测试与分析》主要介绍半导体材料的各种测试分析技术，涉及测试技术的基本原理、仪器结构、样品制备和应用实例等内容，包括四探针电阻率、无接触电阻率、扩展电阻、微波光电导衰减、霍尔效应、红外光谱、
硅基光电子发光材料与器件
本书主要阐述国内外硅基发光材料和器件的研究进展，主要包括：（1）硅基纳米结构材料与发光器件，（2）硅基杂质与缺陷发光中心的构建及器件，（3）硅基多孔硅发光制备与器件，（4）硅基能带调控发光材料与激光器