纳米粉末粒度分布的测定X射线小角散射法(GB/T 13221-2004)

纳米粉末粒度分布的测定X射线小角散射法(GB/T 13221-2004)

作者
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局
出版社
中国标准出版社 版次:第1版
出品方
北京劲松建达科技图书有限公司
语言
简体中文
页数
9页
装帧
平装
ISBN
155066122062
重量
41 g
尺寸
29.6 x 21 x 0.3 cm
电子书格式
epub,pdf,txt,azw3,mobi,fb2,djvu
下载次数
6887
更新日期
2023-08-28

《纳米粉末粒度分布的测定X射线小角散射法(GB/T 13221-2004)》中的标准修改采用ISO/TS 13762:2001,本标准在附录A中列出了本标准条款和国际标准条款的对照一览表。《纳米粉末粒度分布的测定X射线小角散射法(GB/T 13221-2004)》中的标准在采用国际标准时进行了修改,在附录B中给出了技术性差异及其原因的一览表,书中附录A、附录B为资料性附录。《纳米粉末粒度分布的测定X射线小角散射法(GB/T 13221-2004)》是由中国有色金属工业协会提出,由全国有色金属标准化技术委员会(TC243/SC4)归口,起草单位:钢铁研究总院。主要起草人:张晋远、郑毅、柳春兰、方建峰、朱瑞珍、金成海、张宪铭。

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