金属覆盖层 覆盖层厚度测量X射线光谱方法(GB/T 16921-2005)(ISO 3497:2000)

《金属覆盖层 覆盖层厚度测量X射线光谱方法(GB/T 16921-2005)(ISO 3497:2000)》等同采用ISO 3497：2000（E）《金属覆盖层覆盖层厚度测量X射线光谱方法》（英文版）。《金属覆盖层 覆盖层厚度测量X射线光谱方法(GB/T 16921-2005)(ISO 3497:2000)》按GB／T 1.1的编辑要求，根据ISO 3497重新起草。《金属覆盖层 覆盖层厚度测量X射线光谱方法(GB/T 16921-2005)(ISO 3497:2000)》对应ISO 3497作了如下修改：——取消了ISO 3497的前言内容，重新起草了《金属覆盖层 覆盖层厚度测量X射线光谱方法(GB/T 16921-2005)(ISO 3497:2000)》前言；——增加了“目次内容”；——用“《金属覆盖层 覆盖层厚度测量X射线光谱方法(GB/T 16921-2005)(ISO 3497:2000)》”代替“本国际标准”。《金属覆盖层 覆盖层厚度测量X射线光谱方法(GB/T 16921-2005)(ISO 3497:2000)》代替GB／T 16921—1997（（金属覆盖层 覆盖层厚度测量X射线光谱方法》。《金属覆盖层 覆盖层厚度测量X射线光谱方法(GB/T 16921-2005)(ISO 3497:2000)》与GB／T 16921—1997相比主要变化如下：——在范围中增加了警告；——在术语和定义中增加了基体材料、基体金属和基体的定义，且将归一化强度（1997年版的2.3；本版的2.4）的数学符号定义为xn（1997年版为In），相应的数学关系式也随之改变；——在3.3.3能量色散中，将波长和能量的关系式进行了修正；——在原理中，将其内容进行了重新排列，增加了3.5.3比率方法和3.7数学反卷积的描述；——对5.1.2随机误差的标准偏差s以及5.6覆盖层密度的公式进行了修正；——对5.16试样表面的倾斜度的影响，做了更精确的修正；——在仪器的校准中增加了6.1.5计算机模拟主要参数的无标样技术的描述；《金属覆盖层 覆盖层厚度测量X射线光谱方法(GB/T 16921-2005)(ISO 3497:2000)》的附录A为资料性附录。《金属覆盖层 覆盖层厚度测量X射线光谱方法(GB/T 16921-2005)(ISO 3497:2000)》由中国机械工业联合会提出。《金属覆盖层 覆盖层厚度测量X射线光谱方法(GB/T 16921-2005)(ISO 3497:2000)》由全国金属与非金属覆盖层标准化技术委员会归口。《金属覆盖层 覆盖层厚度测量X射线光谱方法(GB/T 16921-2005)(ISO 3497:2000)》起草单位：机械工业表面覆盖层产品质量监督检测中心。《金属覆盖层 覆盖层厚度测量X射线光谱方法(GB/T 16921-2005)(ISO 3497:2000)》起草人：姜新华、凌国伟、刘建国、钟立畅、宋智玲。《金属覆盖层 覆盖层厚度测量X射线光谱方法(GB/T 16921-2005)(ISO 3497:2000)》所代替标准的历次版本发布情况为：——GB／T 16921—1997。

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