《硅单晶中3-5族杂质的光致发光测试方法(GB/T 24574-2009)》对SEMI MF 1389—0704格式进行了相应调整。为了方便比较,在资料性附录B中列出了本标准章条和SEMI MF 1389—0704章条对照一览表。并对SEMI MF 1389—0704条款的修改处用垂直单线标识在它们所涉及的条款的页边空白处。《硅单晶中3-5族杂质的光致发光测试方法(GB/T 24574-2009)》的附录A和附录B为资料性附录。《硅单晶中3-5族杂质的光致发光测试方法(GB/T 24574-2009)》主要起草人:李静、何秀坤、蔺娴。
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