电子元器件失效分析技术

电子元器件失效分析技术

作者
恩云飞
出版社
电子工业出版社 版次:第1版
出品方
电子工业出版社
语言
简体中文
页数
453页
装帧
平装
ISBN
9787121272301
分类
电子与通信
重量
699 g
尺寸
23.8 x 16.8 x 2.4 cm
电子书格式
epub,pdf,txt,azw3,mobi,fb2,djvu
下载次数
4515
更新日期
2023-04-23

本书是工程应用类书,主要介绍电子元器件失效分析技术。从失效分析概论、失效分析技术、失效分析方法和程序以及失效预防几个方面的内容,使读者全面系统地掌握失效分析方面的基础理论、基本概念,技术和设备、方法和流程,指导开展相关的失效分析工作,并了解失效预防的一些基本方法和手段。

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